國星之光大講堂第四講

LED產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用各階段往往會受到各種應(yīng)力、環(huán)境等因素的影響，達(dá)不到預(yù)期的壽命和功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。LED失效分析作為一門新興發(fā)展中的學(xué)科，是產(chǎn)品生產(chǎn)、研發(fā)和應(yīng)用中的重要技術(shù)，深刻理解LED失效分析技術(shù)對LED產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用意義非凡。

為了幫助研發(fā)人員掌握先進(jìn)的失效分析手段，學(xué)習(xí)先進(jìn)的失效分析方法，6月9日，“國星之光大講堂”邀請了公司研究院朱昕博士作“LED失效分析與案例分享”專題授課，公司研究院、各事業(yè)部及國星半導(dǎo)體共計七十余人參加了此次培訓(xùn)。

朱昕博士從失效分析的基本概念出發(fā)，重點(diǎn)圍繞LED產(chǎn)品的芯片失效、封裝失效、內(nèi)應(yīng)力失效、電應(yīng)力失效、裝配失效的失效模式與失效機(jī)理，以及LED產(chǎn)品的實(shí)際失效案例對LED產(chǎn)品在生命周期的各個階段發(fā)生失效的原因做了全方位的精彩講解。

提問環(huán)節(jié)，學(xué)員們對實(shí)操中常遇到的問題或困難，如器件過壓或過流、環(huán)氧樹脂開裂、銀漿分層等提出疑問。朱昕博士結(jié)合自身在LED失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)一一做了詳細(xì)的解答，學(xué)員們紛紛表示此次講座獲益匪淺、收獲頗豐！

國星光電始終堅持創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展戰(zhàn)略，圍繞“五新”改革發(fā)展總思路，著力提升創(chuàng)新實(shí)力和綜合競爭力，公司特別聚焦共性技術(shù)難題攻關(guān)和標(biāo)準(zhǔn)化與可靠性工程研究，為此也搭建了失效分析共性平臺，建立了半導(dǎo)體元器件失效分析團(tuán)隊，協(xié)助各方解決可靠性等技術(shù)難題，進(jìn)一步助推了國星光電奪取高質(zhì)量發(fā)展新勝利！