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【國星之光大講堂第四講】LED失效分析與案例分享精彩回顧

2022-06-22 04:00

國星之光大講堂第四講


LED產(chǎn)品在生產(chǎn)和使用各階段往往會受到各種應(yīng)力、環(huán)境等因素的影響,達不到預期的壽命和功能,即發(fā)生失效現(xiàn)象。LED失效分析作為一門新興發(fā)展中的學科,是產(chǎn)品生產(chǎn)、研發(fā)和應(yīng)用中的重要技術(shù),深刻理解LED失效分析技術(shù)對LED產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用意義非凡。


為了幫助研發(fā)人員掌握先進的失效分析手段,學習先進的失效分析方法,6月9日,“國星之光大講堂”邀請了公司研究院朱昕博士作“LED失效分析與案例分享”專題授課,公司研究院、各事業(yè)部及國星半導體共計七十余人參加了此次培訓。



朱昕博士從失效分析的基本概念出發(fā),重點圍繞LED產(chǎn)品的芯片失效、封裝失效、內(nèi)應(yīng)力失效、電應(yīng)力失效、裝配失效的失效模式與失效機理,以及LED產(chǎn)品的實際失效案例對LED產(chǎn)品在生命周期的各個階段發(fā)生失效的原因做了全方位的精彩講解。



提問環(huán)節(jié),學員們對實操中常遇到的問題或困難,如器件過壓或過流、環(huán)氧樹脂開裂、銀漿分層等提出疑問。朱昕博士結(jié)合自身在LED失效分析領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗一一做了詳細的解答,學員們紛紛表示此次講座獲益匪淺、收獲頗豐!



國星光電始終堅持創(chuàng)新驅(qū)動發(fā)展戰(zhàn)略,圍繞“五新”改革發(fā)展總思路,著力提升創(chuàng)新實力和綜合競爭力,公司特別聚焦共性技術(shù)難題攻關(guān)和標準化與可靠性工程研究,為此也搭建了失效分析共性平臺,建立了半導體元器件失效分析團隊,協(xié)助各方解決可靠性等技術(shù)難題,進一步助推了國星光電奪取高質(zhì)量發(fā)展新勝利!